आगमनात्मक सेंसर

सीएलपी दोहरी

प्राथमिक धातु के इलेक्ट्रोलिसिस में दो आरोपित स्तरों को मापें।

तीर चिह्न
आरोपित धातुओं को मापता है
विभिन्न स्तरों को मापने के लिए उन्नत तकनीक के साथ विकसित
तीर चिह्न
तापमान के लिए प्रतिरोधी
उच्च तापमान का सामना कर सकते हैं
तीर चिह्न
पनडुब्बी जांच
पिघल में विनियमित, नियंत्रण और माप के स्तर
तीर चिह्न
उच्च गुणवत्ता माप
कठिन वातावरण में संरक्षित और कार्य करने के लिए डिज़ाइन किया गया

दो आरोपित स्तरों को मापने के लिए विकसित

निरंतर स्तर की जांच दोहरी को दो आरोपित स्तरों (जैसे मैग्नीशियम/नमक, एल्यूमीनियम/नमक) को मापने में सक्षम होने के लिए विकसित किया गया है। यह अनुप्रयोग प्राथमिक धातु के इलेक्ट्रोलिसिस में विशिष्ट है। इस पनडुब्बी जांच संस्करण को आवेदन के आधार पर एक उपयुक्त सुरक्षात्मक ट्यूब की भी आवश्यकता होती है।

सतत स्तर की जांच दोहरी

तकनीकी निर्देश

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सेंसर मॉडल

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निकासी दूरी
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मापन दूरी
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